魏道政

魏道政（1929年7月-2022年11月26日），原籍浙江省诸暨县，是中国科学院计算技术研究所资深研究员、博士生导师，以及多个学术委员会和学术刊物的重要成员。^[1]他在中国科技大学、北京理工大学、北京计算机学院、山东大学、华中理工大学等高校兼任教授。魏道政是中国计算机辅助设计、辅助测试和容错计算领域的主要开拓者之一，对这些领域做出了杰出贡献。他曾获得多项荣誉，包括第二届国家自然科学奖、中国计算机学会“中国计算机事业60年杰出贡献特别奖”和2019年“CCF终身成就奖”。2022年11月26日，魏道政先生在北京逝世，享年93岁。^[2]

魏道政在1948年前曾就读于忠义中学，于1953年从复旦大学数学系毕业，后由国家统一分配至中国科学院数学研究所工作，师从华罗庚教授学习数论。1957年转入中国科学院计算技术研究所工作，从事计算数学、计算机应用等方面的研究工作。其间，历任研究实习员、助理研究员、副研究员及研究员，国家“七五”“八五”集成电路计算机辅助测试专家委员会委员；并兼任中国科学院成都计算机应用研究所所长，北京市人民政府专业顾问，中国科学院CAD实验室学术委员会主任，全国博士后管委会学科专家组及中国博士后科学基金会专家组成员，中国科学院计算技术研究所学位评定委员会主席，国家自然科学基金委员会学科评审组成员。与此同时，还在中国科技大学、北京理工大学、北京计算机学院、山东大学、华中理工大学等校兼任教授。

2017年，因在容错计算、计算机辅助测试、可测性设计方面做出了杰出贡献，中国计算机学会授予魏道政“中国计算机事业60年杰出贡献特别奖”。

2022年11月26日20时，中国杰出的计算机专家、中国科学院计算技术研究所研究员、博士生导师，原中国科学院成都计算机应用研究所所长、中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室学术委员会主任，魏道政在北京逝世，享年93岁。

魏道政在容错计算、计算机辅助测试、可测性设计等领域中作出了系统的、创造性的重大贡献，是这一领域的开创者和学术带头人之一。他的研究成果包括013机插件测计系统、测试生产的主路径敏化法、757机插件测试码生成系统等，均获得了国家级奖项。他在国内外重大学术会议及学术刊物上发表论文80余篇，并培养了多名硕士和博士研究生。

1982年，获得第二届“国家自然科学奖”。

2017年，获得中国计算机学会“中国计算机事业60年杰出贡献特别奖”。

2020年，获得中国计算机学会2019年度CCF终身成就奖。

魏道政. 1972. 产生组合电路测试码的一种路径敏化法. 电子计算技术, (2): 71-78.魏道政. 1976. 大型数字电路测试码的产生. 计算机动态, (13): 1-18.魏道政. 1978. 大型数字电路测试码的产生. 计算机学报, (2): 93-98.魏道政. 1982. 产生功能块级数字电路测试码的一种算法——主路径敏化法. 计算机学报, 5(2): 125-139.Wei D Z. 1984. The principal path sensitization method and its realization for MSI.PCB’s．Beijing: Proceedings of the First International Conference on Computers and Applications: 748-753.Wei D Z. 1986. An efficient algorithm for calculating Boolean difference. Journal of Computer Science and Technology, 1(1): 35-45.魏道政. 1988. 组合电路故障模拟的平行临界路径跟踪法. 计算机学报, 11(7): 408-415.魏道政. 1989. 一种数字电路故障模拟方法——临界路径跟踪法的改进. 计算机辅助设.计与图形学学报, 1(1): 61-69, 74.魏道政. 1990. 临界路径跟踪——测试产生与故障模拟的一种算法. 计算机辅助设计与图形学学报, 2(3): 40-50.Wei D Z. 1990. Parallel critical path tracing — A fault simulation algorithm for combinational circuits. Journal of Computer Science and Technology, 5(2): 156-163.魏道政. 1994. 功能块级电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题. 电子测量与仪器学报, 8(3): 1-9.魏道政. 1999. 异步时序电路测试生成的一种代数方法. 软件学报, 10: 157-162.魏道政. 1999. 魏道政文集. 北京: 万国学术出版社.魏道政. 2006. 第二章逻辑模拟与故障模拟，第四章测试生成//现代集成电路测试技术编写组. 现代集成电路测试技术. 北京: 化学工业出版社.